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分光装置 (spectroscopy facilities)
時間分解マイクロ波伝導度・ナノ秒過渡吸収分光装置Flash-photolysisi time-resolved microwave conductivity (TRMC) and transient absorption spectroscopy (TAS) |
ピコ秒蛍光寿命測定装置 (ex377 or 282 nm, monitor:400－850 nm, time resolution <50 ps)Picosecond fluorescence lifetime spectroscopy |
紫外可視分光装置 (200－1100 nm)UV-Vis spectrometer |
蛍光・りん光測定装置 (200－900 nm)Fluorescence and phosphorescence spectrometer, 77 K option |
光電子収量分光装置（イオン化ポテンシャル測定装置）(4－9 eV in vacuum)Photoelectron yield spectroscopy (PYS) Glovebox option |
エネルギー分散型蛍光Ｘ線分析Energy dispersive X-ray fluorescence (EDXRF) |
各種分光用クライオスタット（低温～高温）Cryostat for spectroscopies (low temp - high temp) |
発光量子収率測定装置(300ー1650 nm)Photoluminescence quantum yield (PLQY), laser-excitation (375 nm) option |
フーリエ変換赤外分光光度計Fourier transform infrared spectroscopy (FTIR) |
動的光散乱測定装置Dynamic light scattering (DLS) ：石割 |
簡易UV-Vis-NIR分光装置Simple UV-Vis-NIR spectroscopy (200-1100 nm MCA) |
自動TRMC/UV-Vis/光学顕微鏡測定装置Automated TRMC/UV-vis/optical microscopy |
素子作製・評価装置 (device fabrication/measurement facilities)
グローブボックスGlovebox |
真空蒸着器(金属、有機)Vacuum evaporator (metal, organic) |
ソーラーシミュレータSolar simulator |
分光感度測定装置External quantum efficiency (EQE) |
低温プローバ（80-300 K）Low temperature prober |
スピンコータSpin coater |
UVオゾン処理装置UV/Ozone |
酸素プラズマ処理装置O2/Plasma |
インピーダンス分光装置Impedance Spectroscopy |
高強度白色ランプHigh intensity white light lamp |
接触型四端子プローブContact-mode four probe |
ポテンシオスタットPotentiostat |
小型環境試験器(温度・湿度)Environment Test Chamber |
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合成装置 (synthesis facilities)
マイクロ波合成器Microwave reactor |
エバポレータEvaporator |
高温炉Furnace |
真空オーブンVacuum oven |
精密天秤Balance with high accuracy |
超純水精製装置Ultrapure water system |
製氷機（フレークアイス）Ice maker (flake ice) |
フラッシュカラム精製装置Medium-Pressure Flash Chromatography |
JASCO製 リサイクル分取HPLCシステム (IR、PDA)JAIGEL-1H, 2H, 2.5H, 3H (GPC) |
リキッドハンドラー&GPCLiquid handler&GPC (石割) |
JASCO製 分子量測定用GPC HPLCシステム (DMF+LiBr系)検出器、UV検出器、セミミクロカラム装備：石割 |
分取用キラルカラムYMC CHIRAL ART Amylose-SA：石割 |
リサイクル分取HPLCHPLC (recycling, chloroform) |
真空封入管ラインVacuum line for an ample |
リサイクル分取HPLCRecycling HPLC：石割 |
全自動キラルカラム, 条件スクリーニングシステム(CD検出器)Chiral column screening system (CD detector)：石割 |
分析用キラルカラムChiralpak IA,IB-N,IC,ID,IE,IF,IG,IH,IJ,IK:石割 |
分析装置 (analysis facilities)
サイズ排除クロマトグラフィー (PDA, RI検出器)SEC-GPC (Chloroform) |
示差走査熱量計Differential scanning calorimetry (DSC) |
熱重量分析Thermogravimetric analysis (TGA) |
粉末X線回折装置（温調30-500℃）Powder X-ray diffraction (XRD) |
JASCO製 4溶媒混合分析用HPLCシステムYMC CHIRAL ART Amylose-SA装備：石割 |
粘度計、密度計Microviscometer, Density meter：石割 |
顕微鏡・表面観察装置 (microscopy and surface facilities)
原子間力顕微鏡(電流測定オプション)Atomic force microscope (AFM) + conducting mode |
触針型膜厚計・表面プロファイラーSurface profiler (DektakXT) |
接触角測定装置Contact angle |
偏光顕微鏡（ヒーター付）Polarized optical microscope (with heater) |
作業用光学顕微鏡Optical microscopy（石割） |
電界放出型走査電子顕微鏡Field-emission scanning electron microscope (FE-SEM) |
